Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
NORM herausgegeben am 1.2.2012
Designation standards: DIN EN 60749-40:2012-02
Publication date standards: 1.2.2012
The number of pages: 23
Approximate weight : 69 g (0.15 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.