DIN EN 62374-1:2011-06

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.

NORM herausgegeben am 1.6.2011

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The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62374-1:2011-06
Publication date standards: 1.6.2011
The number of pages: 18
Approximate weight : 54 g (0.12 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text DIN EN 62374-1:2011-06 :

Halbleiterbauelemente - Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen.