DIN EN IEC 60749-41:2023-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORM herausgegeben am 1.3.2023

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The information about the standard:

Designation standards: DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Publication date standards: 1.3.2023
The number of pages: 26
Approximate weight : 78 g (0.17 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text DIN EN IEC 60749-41:2023-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen.