Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; identical with IEC 60749, edition 1984.
NORM herausgegeben am 1.9.1987
Bezeichnung normen: DIN IEC 60749:1987-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.1987
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente; Mechanische und klimatische Prüfverfahren.