E DIN EN 60749-1:2002-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General.

NORM herausgegeben am 1.6.2002

Englisch und Deutsch -
Elektronische PDF (41.80 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-1:2002-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2002
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-1:2002-06 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Allgemeines.