
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General.
NORM herausgegeben am 1.6.2002
Designation standards: E DIN EN 60749-1:2002-06
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.6.2002
The number of pages: 7
Approximate weight : 21 g (0.05 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Allgemeines.