NORMSERVIS s.r.o.

E DIN EN 60749-19:2002-05

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test.

NORM herausgegeben am 1.5.2002

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The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-19:2002-05
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.5.2002
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-19:2002-05 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19: Prüfung der Chip-Bondfestigkeit.