E DIN EN 60749-27:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM).

NORM herausgegeben am 1.9.2002

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-27:2002-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2002
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-27:2002-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Machine Model (MM).