E DIN EN 60749-29:2009-11

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORM herausgegeben am 1.11.2009

Englisch und Deutsch -
Elektronische PDF (111.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-29:2009-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2009
Zahl der Seiten: 45
Gewicht ca.: 135 g (0.30 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-29:2009-11 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.