E DIN EN 60749-29:2009-11

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORM herausgegeben am 1.11.2009

Englisch und Deutsch -
Elektronische PDF (111.40 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-29:2009-11
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.11.2009
The number of pages: 45
Approximate weight : 135 g (0.30 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-29:2009-11 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung.