E DIN EN 60749-29:2002-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test.

NORM herausgegeben am 1.9.2002

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-29:2002-09
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.9.2002
Zahl der Seiten: 33
Gewicht ca.: 99 g (0.22 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN