E DIN EN 60749-41:2017-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORM herausgegeben am 1.4.2017

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-41:2017-04
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.4.2017
Zahl der Seiten: 35
Gewicht ca.: 105 g (0.23 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-41:2017-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Zuverlässigkeitsprüfverfahren für nichtflüchtige Speicher-Bauelemente.