E DIN EN 60749-43:2013-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan.

NORM herausgegeben am 1.10.2013

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-43:2013-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.10.2013
Zahl der Seiten: 63
Gewicht ca.: 189 g (0.42 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-43:2013-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden zur Planung der Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.