E DIN EN 60749-44:2014-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORM herausgegeben am 1.8.2014

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-44:2014-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2014
Zahl der Seiten: 33
Gewicht ca.: 99 g (0.22 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-44:2014-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.