E DIN EN 60749-5:2002-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.

NORM herausgegeben am 1.6.2002

Englisch und Deutsch -
Elektronische PDF (48.80 EUR)

Englisch und Deutsch -

Gedruckt (62.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN EN 60749-5:2002-06
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2002
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN EN 60749-5:2002-06 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.