E DIN EN 60749-5:2002-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias life test.

NORM herausgegeben am 1.6.2002

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The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-5:2002-06
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.6.2002
The number of pages: 12
Approximate weight : 36 g (0.08 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-5:2002-06 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter Vorspannung.