E DIN EN 60749-44:2014-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.

NORM herausgegeben am 1.8.2014

Englisch und Deutsch -
Elektronische PDF (99.40 EUR)

Englisch und Deutsch -

Gedruckt (120.10 EUR)

Englisch und Deutsch -

CD-ROM (100.90 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN 60749-44:2014-08
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.8.2014
The number of pages: 33
Approximate weight : 99 g (0.22 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text E DIN EN 60749-44:2014-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen.