E DIN EN IEC 60749-30:2019-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing.

NORM herausgegeben am 1.9.2019

Deutsch -
Elektronische PDF (91.00 EUR)

Deutsch -

Gedruckt (116.80 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN IEC 60749-30:2019-09
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.9.2019
The number of pages: 25
Approximate weight : 75 g (0.17 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text E DIN EN IEC 60749-30:2019-09 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen.