E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.

NORM herausgegeben am 1.8.2024

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The information about the standard:

Designation standards: E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.8.2024
The number of pages: 37
Approximate weight : 111 g (0.24 lbs)
Country: German technical standard
Kategorie: Technische Normen DIN

Annotation of standard text E DIN EN IEC 60749-34-1:2024-08 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 34-1: Leistungszyklusprüfung für Leistungshalbleitermodule.