E DIN IEC 60749-28:2003-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Charged device model (CDM).

NORM herausgegeben am 1.2.2003

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN IEC 60749-28:2003-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.2.2003
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN IEC 60749-28:2003-02 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD); Charged Device Model (CDM).