
Hot Carrier Test on MOS Transistors.
NORM herausgegeben am 1.8.2007
Bezeichnung normen: E DIN IEC 62416:2007-08
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.8.2007
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren.