VDE V 0847-21-3. Integrated Circuits - Measurement of Electromagnetic Emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan methodIntegrated circuits.
NORM herausgegeben am 1.5.2012
Bezeichnung normen: E DIN IEC/TS 61967-3:2012-05
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2012
Zahl der Seiten: 63
Gewicht ca.: 189 g (0.42 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
VDE V 0847-21-3. Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen - Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen - Verfahren der Oberflächenabtastung.