E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11

VDE V 0847-22-9. Integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method.

NORM herausgegeben am 1.11.2012

Deutsch -
Gedruckt (33.40 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2012
Zahl der Seiten: 52
Gewicht ca.: 156 g (0.34 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Die Annotation des Normtextes E DIN IEC/TS 62132-9:2012-11 :

VDE V 0847-22-9. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung.