
Detects of swirls and striations in chemically polished silicon wafers
NORM herausgegeben am 1.1.1986
Bezeichnung normen: GB 6622-1986
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1986
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB