GB 6623-1986

Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers

NORM herausgegeben am 1.1.1986

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (203.80 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB 6623-1986
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 1.1.1986
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB