GB/T 13387-2009

Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials

NORM herausgegeben am 30.10.2009

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (195.40 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 13387-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB