GB/T 13388-1992

Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques

NORM herausgegeben am 19.2.1992

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 13388-1992
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 19.2.1992
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB