GB/T 14142-1993

Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon by etching techniques

NORM herausgegeben am 6.2.1993

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (296.00 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 14142-1993
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 6.2.1993
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB