GB/T 14145-1993

Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy

NORM herausgegeben am 6.2.1993

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (211.10 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 14145-1993
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 6.2.1993
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB