Silicon epitaxial layers—Determination of carrier concentration—Mercury probe Valtage-capacitance method
NORM herausgegeben am 6.2.1993
Bezeichnung normen: GB/T 14146-1993
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 6.2.1993
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB