GB/T 14847-2025

Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates—Infrared reflectance method

NORM herausgegeben am 31.10.2025

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 14847-2025
Anmerkung: Execute Date: may 2026
Ausgabedatum normen: 31.10.2025
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB