
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
NORM herausgegeben am 30.10.2009
Bezeichnung normen: GB/T 1553-2009
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.10.2009
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB