
Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction
NORM herausgegeben am 5.2.2004
Bezeichnung normen: GB/T 19444-2004
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 5.2.2004
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB