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GB/T 19444-2004

Oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction

NORM herausgegeben am 5.2.2004

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 19444-2004
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 5.2.2004
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB