GB/T 24578-2009

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy

NORM herausgegeben am 30.10.2009

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The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2009
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB