GB/T 24578-2015

Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORM herausgegeben am 10.12.2015

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The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2015
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 10.12.2015
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB