GB/T 24578-2024

Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy

NORM herausgegeben am 24.7.2024

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The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24578-2024
Publication date standards: 24.7.2024
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB