GB/T 24581-2009

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities

NORM herausgegeben am 30.10.2009

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (469.90 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 24581-2009
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.10.2009
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB