GB/T 24581-2009

Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for - impurities

NORM herausgegeben am 30.10.2009

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (445.00 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24581-2009
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB