GB/T 24582-2009

Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry

NORM herausgegeben am 30.10.2009

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (323.40 EUR)

English, Chinesisch -

Gedruckt (323.40 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 24582-2009
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB