GB/T 26067-2010

Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers

NORM herausgegeben am 10.1.2011

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (234.90 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 26067-2010
Publication date standards: 10.1.2011
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB