GB/T 26068-2010

Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance

NORM herausgegeben am 10.1.2011

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 26068-2010
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.1.2011
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB