
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
NORM herausgegeben am 30.12.2011
Bezeichnung normen: GB/T 27788-2011
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.12.2011
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB