
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
NORM herausgegeben am 31.7.2012
Bezeichnung normen: GB/T 28634-2012
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 31.7.2012
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB