GB/T 29505-2013

Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer

NORM herausgegeben am 9.5.2013

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (702.10 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 29505-2013
Publication date standards: 9.5.2013
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB