GB/T 29507-2013

Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning

NORM herausgegeben am 9.5.2013

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (351.80 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 29507-2013
Ausgabedatum normen: 9.5.2013
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB