GB/T 30866-2014

Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers

NORM herausgegeben am 24.7.2014

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (160.70 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 30866-2014
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 24.7.2014
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB