GB/T 30867-2014

Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers

NORM herausgegeben am 24.7.2014

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (182.30 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 30867-2014
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 24.7.2014
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB