GB/T 31225-2014

Test method for the thickness of silicon oxide on Si substrate by ellipsometer

NORM herausgegeben am 30.9.2014

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (248.10 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 31225-2014
Ausgabedatum normen: 30.9.2014
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB