GB/T 32189-2015

Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope

NORM herausgegeben am 10.12.2015

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (259.50 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 32189-2015
Ausgabedatum normen: 10.12.2015
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB