
Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers
NORM herausgegeben am 10.12.2015
Bezeichnung normen: GB/T 32278-2015
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.2015
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB