GB/T 32280-2015

Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

NORM herausgegeben am 10.12.2015

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (509.20 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 32280-2015
Note: UNGÜLTIG
Publication date standards: 10.12.2015
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB