GB/T 32280-2022

Test method for warp and bow of silicon wafers—Automated non-contact scanning method

NORM herausgegeben am 9.3.2022

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (302.90 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: GB/T 32280-2022
Ausgabedatum normen: 9.3.2022
Land: Chinesische technische Norm
Kategorie: Technische Normen GB