GB/T 32281-2015

Test method for measuring oxygen, carbon, boron and phosphorus in solar silicon wafers and feedstock by secondary ion mass spectrometry

NORM herausgegeben am 10.12.2015

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (192.70 EUR)

English, Chinesisch -

Gedruckt (192.70 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 32281-2015
Publication date standards: 10.12.2015
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB