GB/T 32495-2016

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

NORM herausgegeben am 24.2.2016

English, Chinesisch -
Elektronische PDF (301.80 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 32495-2016
Publication date standards: 24.2.2016
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technische Normen GB